Arbeitsbereiche

Forschungsgebiete

Untersuchung optischer, elektrischer und mechanischer Eigenschaften der kondensierten Materie mit Hilfe der optischen Intensitäts- und Polarisationsspektroskopie, des Hall-Effektes und der Ultraschallspektroskopie
Bestimmung mechanischer Eigenschaften von Festkörpermaterialien, Elastomeren, Fluiden und biologischen Objekten mit den Verfahren der Ultraschallmikroskopie, -nahfeldmikroskopie, -holographie, -tomographie und -spektroskopie
Untersuchung elektronischer, optischer und gitterdynamischer Eigenschaften von neuartigen multinären anorganischen und organischen Halbleiterverbindungen und deren Heterostrukturen für Photovoltaik (Solarzellen), für elektrische (Transistoren, Detektoren) und optische (Laser, LED) Anwendungen mit Hilfe der optischen Verfahren Ellipsometrie, Reflexion, Transmission, Raman- und Lumineszenzspektroskopie
Entwicklung und Anwendung optischer Methoden zur in situ-Kontrolle und Charakterisierung von Dünnschichtwachstumsprozessen in der Photovoltaik sowie für organische und anorganische Halbleiterbauelemente
Entwicklung von mikroskopischen Verfahren und miniaturisierter Sensorik sowie der Kombination von optischer und akustischer Rastermikroskopie
Experimentelle und theoretische Arbeiten zur Nanooptik: Plasmonen-Spektroskopie, Quantendots in Mikroresonatoren, optische Eigenschaften kolloidaler Aggregate, Nahfeldmikroskopie
Untersuchung ballistischer Elektronen in Metallen

Ausgewählte Beispiele aus der Festkörperakustik:

Ausführliche Informationen zur Ellipsometrie finden sie unter:

FTIR-Spektral-Ellipsometer der Firma J.A.Woollam Co. (gemeinsam mit der Arbeitsgruppe Halbleiterphysik)
=> Mehr Infos
M-2000 VI - Schnelles Spektroskopisches Ellipsometer zur in-situ Prozessanalytik
=> Mehr Infos
FTIR-Spektrometer 113v der Firma Bruker
UV-VIS-NIR-Spektrometer LAMBDA19 der Firma Perkin Elmer
Raman-Spektrometer XY 800 der Firma Dilor mit abstimmbarer Laseranregung sowie konfokalem Raman- und Lumineszenzmikroskop
Konfokales Laser Scanning Mikroskop der Firma Zeiss
Ultraschallspektroskop, Ultraschallmikroskop und -nahfeldmikroskop
Ultraschallholographie und -tomographie
Miniaturviskosimeter
Halleffektmessplatz mit abstimmbarer optischer Anregung
Messeinrichtung zur ballistischen Ausbreitung von Elektronen
Kryostaten ( 1.3 bis 400 K) verfügbar

Charakterisierung von Einkristallen, Elastomeren, Flüssigkeiten und biologischen Präparaten mittels

Ramanspektroskopie und -mikroskopie
Ultraschallmikroskopie, -holographie und -tomographie
Reflexions- und Transmissionsspektroskopie sowie spektroskopischer Ellipsometrie (gemeinsam mit der Arbeitsgruppe Halbleiterphysik) in situ und ex situ im Spektralbereich vom UV- bis zum FIR
Viskosimetrie und Rheologie von Fluiden

Anwendungsorientierte Entwicklung von Meßverfahren, -geräten und Sensoren für die optische und mechanische Charakterisierung sowie zerstörungsfreie Verfahren