Thomas Höche

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Patents


9-17. Applications derived from #6 in the US, Japan, Thailand, Europe, and Switzerland.
7-8. Applications derived from #5 in the US and Japan.
6. T. Petsch, B. Keiper, S. Albert, and Th. Höche:
"Lasermarkierverfahren, Lasermarkiervorrichtung und Optikelement"
DE 10 2008 056 136 A1 (29/10/2008).
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5. Th. Höche:
"Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Proben für die Transmissionselektronenmikroskopie"
DE 10 2008 052 006 A1 (10/10/2008).
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4. Th. Höche, B. Keiper, T. Petsch, and M. Lasch
"Verfahren und Vorrichtung zum Laserschneiden"
DE 10 2008 000 306 B4 (15/02/2008).
[pdf]
3. Th. Höche, B. Keiper, and T. Petsch:
"Vorrichtung zur Erzeugung von Mikrolöchern"
DE 10 2007 032 231 A1 (11/07/2007).
[pdf]
2. Th. Höche, J. Hänel, and T. Petsch:
"Verfahren zur Herstellung von zur Untersuchung mittels Transmissionselektronenmikroskopie geeigneten Proben"
DE 10 2004 001 173 B4 (05/01/2004).
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1. Th. Höche, J. Hänel, and T. Petsch:
"Probe für elektronenmikroskopische Untersuchungen"
DE 103 58 182 A1, 12. 12. 2003.
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