Röntgenbeugung II (Philips X'Pert)
Betreuer: Prof. Dr. Michael Lorenz
Im Praktikumsversuch Röntgenstrukturanalyse II werden verschiedene
Festkörperproben mit Hilfe des PHILIPS Diffraktometers X'pert
analysiert.
Zunächst erfolgt eine Einführung in die Erzeugung und die
Sicherheitsaspekte bei der Nutzung von Röntgenstrahlung. Die
emittierten Röntgenlinien werden auf die Elektronenstruktur der Atome
des Anodenmaterials zurückgeführt, wobei hier unmittelbar
quantenmechanische Phänomene wie die Spin-Bahn-Kopplung in den
Beugungsmustern hervortreten. 
Weiter sind das Verständnis grundlegender kristallografischer Begriffe
wie Achsen- und Kristallsysteme, Millersche Indizes, reziprokes Gitter
sowie praktischer Gesichtspunkte wie Genauigkeit und Fehler bei
Goniometermessungen Ziel dieses Versuches.
Wesentliche Aufgaben sind:
Bestimmung der Gitterkonstanten eines polykristallinen kubischen und
eines hexagonalen Materials.
Untersuchung von polykristallinem Massivmaterial und daraus gewachsenen
Dünnschichten aus dem Hochtemperatur-Supraleiter YBa2Cu3O7-d.
Bestimmung von Gitterkonstanten und Sauerstoff-Defizit, sowie der
Vorzugsorientierung der Dünnschichten. Verständnis der Begriffe Textur
und Epitaxie.
Bestimmung der Mosaizität der Dünnfilme und Korrelation der Struktur
mit den elektrischen Eigenschaften (kritische Stromdichte).
